Transistoren mit niedrigem Einschaltwiderstand: ROHMs 4th Gen SiC-MOSFETs mit Treibern und Half-Bridge Evaluation Boards – jetzt bei Rutronik

30.06.2025 Product News

Rutronik führt die neuen N-Channel SiC-Power-MOSFETs der vierten Generation von ROHM. Die Leistungsschalter bieten einen niedrigen Einschaltwiderstand bei verbesserter Kurzschlussfestigkeit, minimieren Schaltverluste durch drastische Reduzierung der Gate-Drain-Kapazität und unterstützen die 15 V-Gate-Source-Spannung für noch mehr Energieeinsparung und Designfreiheit. Durch ihre hohe Robustheit sind sie prädestiniert für den Einsatz u. a. in Elektrofahrzeugen, Industrieantrieben oder der Luft- und Raumfahrt. Die MOSFETs sind zusammen mit den dazugehörenden Modulen und Treibern sowie den Half-Bridge Evaluation Boards, die die Integration in Kundenapplikationen unterstützen, unter www.rutronik24.com.

ROHM besitzt das gesamte Fertigungs-Know-How für SiC-MOSFETs, bietet Substrat, Wafer sowie Packaging und Testing aus einer Hand. Zusätzlich zu den diskreten SiC-MOSFETs sind auch korrespondierende Module, Treiber-Bausteine und Evaluation-Boards verfügbar. 

Die Half-Bridge Evaluation Boards P04SCT4018KE-EVK-001 und P05SCT4018KR-EVK-001 wurden für SiC-MOSFETs der Gen. 4 in kompakten TO-247N und TO-247-4L-Gehäusen entwickelt und unterstützen die schnelle Umsetzung neuer Applikationen in der Entwicklung. So reduzieren integrierte Gate-Treiber und Peripherieschaltungen den Arbeitsaufwand für Design und Evaluierung.

Das HB2637L-EVK-301-Board ermöglicht Evaluierungen in Betriebsarten wie Auf-/Abwärtswandler, synchrone Auf-/Abwärtswandler und Inverterbetrieb. Es integriert zwei SiC-MOSFETs, einen isolierten Gate-Treiber inklusive Netzteil, einen Low-Dropout-Regler (LDO) für eine 5 V-Versorgung sowie einfach zu verbindende Anschlüsse für Pulsweitenmodulation-Signale (PWM).

Der BM61M41RFV-C-Gate-Treiber verfügt über eine Isolationsspannung von 3.750 Vrms, einer E/A-Verzögerungszeit von nur 65 ns und einer minimalen Eingangsimpulsbreite von 60 ns. Er ist galvanisch isoliert und mit Under-Voltage-Lockout (UVLO)-, sowie der Miller-Clamping-Funktion ausgestattet. Das Bauteil ist AEC-Q100-qualifiziert und UL1577 anerkannt.

Die SiC-MOSFETs profitieren von der Verbesserung der Bausteinstruktur auf Basis des ursprünglichen Double-Trench-Designs. Damit erzielen sie einen um bis zu 40 % niedrigeren Einschaltwiderstand bei deutlich höherer Robustheit im Vergleich zu ähnlichen Bauteilen. Durch das drastische Reduzieren parasitärer Effekte wie der Gate-Drain-Kapazität verringern sich Schaltverluste um bis zu 50 %.

Im Gegensatz zu den SiC-MOSFETs der dritten Generation unterstützt die vierte Generation einen flexibleren Gate-Spannungsbereich von 15 V bis 18 V. Das ermöglicht die Entwicklung einer Gate-Treiberschaltung, die auch bei hohen Strömen für Insulated-Gate Bipolar Transistor (IGBT) eingesetzt werden kann. Die Bauteile halten einer thermischen Belastung von bis zu +175 °C stand und lassen sich einfach parallelschalten und ansteuern. Sie sind bleifrei und RoHS-konform und ideal für den Einsatz in Automotive, Industrie oder New Energy, sowie in allen Zukunftsmärkten.

Benefits im Überblick:

  • Hohe Kurzschlussfestigkeit
  • Minimierter Schaltverlust
  • Unterstützt 15 V – 18 V Gate-Source-Spannung
  • Zuverlässige Leistung bei Temperaturen bis +175 °C

Anwendungsbeispiele:

  • Elektrofahrzeuge
  • Ladegeräte und DC/DC-Wandler
  • Photovoltaik-Wechselrichter
  • Industrieantriebe
  • Luft- und Raumfahrttechnik

Weitere Informationen zu den 4th Generation SiC-MOSFETs mit dazugehörenden Treibern und Evaluation Boards von ROHM sowie eine direkte Bestellmöglichkeit finden Sie auch auf unserer e-Commerce-Plattform www.rutronik24.com.

Contact Rutronik:

Ralf Kern| Line Manager | +49 7231 801 1677 | Ralf.Kern@rutronik.com

ROHMs SiC-MOSFET-Half-Bridge Evaluation-Board Gen. 4, entwickelt für SiC-MOSFETs der vierten Generation.

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